臺北市106學年度國民小學一般智能資優學生鑑定複選【二】觀察評量時間公告

106學年度一般智能資賦優異學生鑑定安置複選【二】觀察評量，將進行6次入班觀察，時間排定如下：

(1)106年3月14日(星期二)13:30-15:00

(2)106年3月15日(星期三)13:30-15:00

(3)106年3月21日(星期二)13:30-15:00

(4)106年3月22日(星期三)13:30-15:00

(5)106年3月28日(星期二)13:30-15:00

(6)106年3月29日(星期三)13:30-15:00

地點：本校二樓個學中心丙班教室

注意事項：

1.考試當日請考生備妥文具(鉛筆、橡皮擦)及水壺應試，務必於觀察評量時間準時至本校二樓個學中心丙班教室報到，以利進行觀察評量。

2. 依本市教育局薦輔會規定為維護評量品質，複選『二』觀察評量缺課或請假至多以2次為限，缺課或請假超過2次者，視同放棄，且不得要求補行施測。